领先光学研制的"热翘曲量测设备"是国内唯一在半导体翘曲量测领域应用Shadow-Moire技术研发制造“热翘曲量测设备”的公司，该设备满足国际品牌Akromtrix-AXP的使用场景，且符合国内的生产工艺要求。所有配件全部国产化，功能全部实现国产化，对比竞品的温控模块，温度均匀性的性能全方面提升。

Shadow-Moire热翘曲量测设备

　　领先光学的代表性突破在于其热翘曲量测设备。该设备基于国际主流的”阴影摩尔条纹技术(Shadow Moire)“进行研发制造。

　　当前全球仅有两家企业能够应用此项技术研发制造相关设备：除美国的知名品牌外，便是中国的领先光学技术(江苏)有限公司。作为该领域国内唯一的突破者，领先光学成功在半导体翘曲量测领域实现了技术产品化，也标志着国内在此领域已步入行业领先行列。

　　领先光学的热翘曲量测设备在突破核心技术的同时，紧密围绕全球先进工艺场景进行深度优化和迭代，在测量精度与产线工艺适配性上实现了同步突破。其特点在于：

　　全面国产化:实现了所有配件的国产化与全部功能的自主化，保障了供应链安全。

　　性能优化:对比国际竟品，其温控模块在温度均匀性这一关键性能上实现了全方面提升。

　　可靠验证:设备历经三个周期的迭代更新，其稳定性、可靠性、安全性、易维护性均已得到充分验证，具备工业化应用的成熟度。

　　经过三年发展，领先光学热翘曲量测设备已针对不同行业形成成熟解决方案:

　　电子行业

　　采用红外辐射加热，最高温度300°C，同样具备百纳米级精度，符合国际主流标准，支持实时翘曲变化分析。

　　半导体行业

　　兼容市场主流尺寸，测试精度达百纳米级，采用被JEDEC、JEITA等国际标准推荐的测试方法，全视场单次成像，测量高效便捷。

　　线路板行业

　　支持常温~300°C宽温范围实时测量，翘曲有效量程达3mm，精度为百纳米级，全视场4秒内即可一次性完成多区域测量，便于集成在线自动化方案。